Highly Accelerated Stress Testing (HAST) er en svært effektiv testmetode utviklet for å evaluere påliteligheten og levetiden til elektroniske produkter. Metoden simulerer påkjenningene som elektroniske produkter kan oppleve over lang tid ved å utsette dem for ekstreme miljøforhold – som høye temperaturer, høy luftfuktighet og høyt trykk – i svært kort tid. Denne testingen akselererer ikke bare oppdagelsen av mulige defekter og svakheter, men bidrar også til å identifisere og løse potensielle problemer før produktet leveres, og dermed forbedre den generelle kvaliteten på produktet og brukertilfredsheten.
Testobjekter: Chips, hovedkort og mobiltelefoner og nettbrett som bruker svært akselerert stress for å stimulere problemer.
1. Vedta importert høytemperaturbestandig magnetventil dobbelkanalstruktur, i størst mulig grad for å redusere bruken av feilraten.
2. Uavhengig dampgenererende rom, for å unngå direkte innvirkning av damp på produktet, for ikke å forårsake lokal skade på produktet.
3. Dørlås sparende struktur, for å løse den første generasjonen av produkter disk type håndtak låsing vanskelige mangler.
4. Sug ut kald luft før testen; test i eksos kald luft design (test fat luftutslipp) for å forbedre trykkstabilitet, reproduserbarhet.
5. Ultralang eksperimentell kjøretid, lang eksperimentell maskin som kjører 999 timer.
6. Vannnivåbeskyttelse, gjennom testkammerets vannnivå Sensordeteksjonsbeskyttelse.
7. Vannforsyning: automatisk vannforsyning, utstyret leveres med vanntank, og ikke utsatt for å sikre at vannkilden ikke er forurenset.
